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一种层状中高介电常数低损耗微波介质陶瓷及其制备方法

摘要

本发明公开了属于电子功能材料与器件技术领域的一种层状中高介电常数低损耗微波介质陶瓷及其制备方法。该陶瓷材料由A基片和B基片层状粘合而成,其中A基片由质量百分比为16%~17%的BaO、6.5%~45%的Sm2O3、8.5%~37%的Nd2O3、36%~40%的TiO2和0.0%~3.0%的Al2O3构成,B基片由质量百分比为21%~22%的CaO、29%~30%的Sm2O3、30%~50%的TiO2和0.0%~18%的Al2O3构成;这种微波介质陶瓷材料的介电常数为60~80,Q×f值为13000~22000GHz,谐振频率温度系数为‑5~+5ppm/℃。本发明制备的层状结构微波介质陶瓷材料的综合性能优于现有的中高介电常数微波介质陶瓷材料,制备方法避免了两种基片材料在高温下可能发生的化学反应,在介质谐振器、滤波器等微波器件制作领域有良好的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN113354413A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN202110759080.9

  • 申请日2021-07-05

  • 分类号C04B35/50(20060101);C04B35/46(20060101);C04B35/622(20060101);C04B35/638(20060101);C04B37/00(20060101);

  • 代理机构11246 北京众合诚成知识产权代理有限公司;

  • 代理人张文宝

  • 地址 100084 北京市海淀区北京市100084-82信箱

  • 入库时间 2023-06-19 12:30:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-02-03

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):C04B35/50 专利申请号:2021107590809 申请公布日:20210907

    发明专利申请公布后的视为撤回

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