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光场显示度量

摘要

本发明涉及光场显示度量。公开了用于显示器的光场度量系统的示例。所述光场度量可以捕获投影光场的图像,并且使用所捕获的图像来确定光场的各个区域的焦深(或横向焦点位置)。然后可以将所确定的焦深(或横向位置)与预期焦深(或横向位置)进行比较,以量化显示器的缺陷。基于所测量的缺陷,可以对光场执行适当的误差校正以校正所测量的缺陷。所述显示器可以是头戴式显示器中的光学显示元件,例如能够产生多个深度平面的光学显示元件或光场显示器。

著录项

  • 公开/公告号CN113358045A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 奇跃公司;

    申请/专利号CN202110294241.1

  • 发明设计人 S·A·米勒;L·E·埃德温;I·L·约;

    申请日2016-11-02

  • 分类号G01B11/14(20060101);G01B11/22(20060101);G01J3/50(20060101);G02B27/01(20060101);G06F3/01(20060101);G06T15/20(20110101);G06T19/00(20110101);G09G3/00(20060101);G09G5/02(20060101);H04N13/144(20180101);H04N13/327(20180101);H04N13/344(20180101);H04N13/383(20180101);H04N13/398(20180101);

  • 代理机构11247 北京市中咨律师事务所;

  • 代理人贺月娇;于静

  • 地址 美国佛罗里达州

  • 入库时间 2023-06-19 12:30:38

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