首页> 中国专利> 抗辐射干扰瞬态x射线测量装置

抗辐射干扰瞬态x射线测量装置

摘要

本发明公开了一种抗辐射干扰瞬态x射线测量装置,包括:无源模块,其包括壳体组件,以及位于所述壳体组件内部的半导体感应芯片、第一准直镜和第二准直镜,所述第一准直镜与半导体感应芯片之间设有入射光路,所述半导体感应芯片与第二准直镜之间设有反射光路;有源模块,其安装在壳体组件远离所述半导体感应芯片的一端,所述有源模块包括舱体,以及位于舱体内部的光纤激光器、第三准直镜和图像传感器,其中,光纤激光器与所述第一准直镜之间连接有第一光纤,第三准直镜所述第二准直镜之间连接有第二光纤,所述第三准直镜与图像传感器之间设有接收光路。本发明解决了在多种辐射干扰下对聚变目标进行X射线瞬态成像的技术难题。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-06-02

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N23/04 专利申请号:2021106167925 申请公布日:20210907

    发明专利申请公布后的驳回

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号