首页> 中国专利> 随机目标粒子平面共线特征快速识别方法、存储设备及装置

随机目标粒子平面共线特征快速识别方法、存储设备及装置

摘要

本发明涉及一种随机目标粒子平面共线特征快速识别方法、存储设备及装置,其中识别方法包括:S1:获取点阵坐标;S2:遍历点阵中所有点,并使得点阵中的点两两生成直线;S3:基于预设的角度限制和距离阈值对S2中生成的直线进行聚类,得到直线系;S4:基于S3中得到的直线系,按照直线间夹角‑线数‑点数关系、距离关系与模板进行相似度匹配,并识别出点阵的正常或异常状态,得到缺陷关系。与现有技术相比,本发明通过点阵之间的共线、角度与距离关系,对点阵进行快速识别匹配;同时也可以实现当已知观测点阵与某点阵之间为匹配关系时,识别出点阵的正常或异常状态。

著录项

  • 公开/公告号CN113362290A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 同济大学;

    申请/专利号CN202110572619.X

  • 发明设计人 马云龙;潘玥;王达磊;董一庆;

    申请日2021-05-25

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/70(20170101);G06T7/60(20170101);

  • 代理机构31225 上海科盛知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈天宝

  • 地址 200092 上海市杨浦区四平路1239号

  • 入库时间 2023-06-19 12:29:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-02-10

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号