首页> 中国专利> 一种基于图像平滑度变化量特征的隐写分析方法

一种基于图像平滑度变化量特征的隐写分析方法

摘要

一种基于图像平滑度变化量特征的隐写分析方法包括图像平滑度提取方法和图像平滑度变化量特征提取方法两大部分;图像平滑度提取方法包括线段覆盖方法和平滑度计算两部分;线段覆盖方法包括0度方向线段覆盖、45度方向线段覆盖、90度方向线段覆盖和135度方向线段覆盖,在线段覆盖后选取参数并计算图像平滑度;图像平滑度变化量特征提取包括隐写前图像平滑度特征计算,用待分析的隐写方法进行隐写,隐写后图像平滑度特征计算和计算平滑度变化量特征四个步骤。本发明能够分析灰度图像基于LSB的隐写和基于直方图修改的隐写,对于这两类隐写方法,本发明具有较高准确率。

著录项

  • 公开/公告号CN102147913B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-02-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201110089230.6

  • 发明设计人 毛佳俊;陈真勇;范围;熊璋;

    申请日2011-04-11

  • 分类号

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人成金玉

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 09:13:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-31

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06T 1/00 授权公告日:20130213 终止日期:20160411 申请日:20110411

    专利权的终止

  • 2013-02-13

    授权

    授权

  • 2012-04-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 1/00 申请日:20110411

    实质审查的生效

  • 2011-08-10

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号