一种用于半导体二极管制造过程中击穿电压检测装置

摘要

本发明涉及半导体分立器件制造技术领域，且公开了一种用于半导体二极管制造过程中击穿电压检测装置，包括转动装置，所述转动装置的右侧设置有测试装置，所述测试装置的右侧设置有推出装置。该用于半导体二极管制造过程中击穿电压检测装置，通过转动装置、测试装置和推出装置的配合使用，从而达到了将装置放在托盘上卡接好后，启动装置就能自动完成测试的操作，且能自动筛选掉不合格的半导体二极管，简化了操作难度，提高了检测的效率的效果。