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一种质量图和最小费用流结合的InSAR干涉相位两步解缠方法

摘要

本发明涉及一种质量图和最小费用流结合的InSAR干涉相位两步解缠方法,将干涉相位的相位导数方差和相干系数作为相位质量图,第一步通过设置阈值找到干涉相位的高质量不规则区域并采用Delaunay三角网络连接,然后对该高质量不规则区域使用质量图算法进行相位解缠。第二步对第一步解缠剩下的相对低质量不规则区域再次用Delaunay三角网络连接,对低质量不规则区域通过连接正负残差像素点得到最佳枝切线路,采用最小费用流法进行相位解缠,最终得到整幅图像的解缠相位。本发明可以尽可能的发挥两种相位解缠算法的优点,在计算速度、解缠成功率以及鲁棒性等方面都有很大的提升。

著录项

  • 公开/公告号CN113311433A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202110592194.9

  • 申请日2021-05-28

  • 分类号G01S13/90(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人安丽;邓治平

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2023-06-19 12:22:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-08-02

    授权

    发明专利权授予

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