一种通过光谱分析对霍山石斛选种的方法

摘要

本发明公开了一种通过光谱分析对霍山石斛选种的方法，通过对不同粒径的正宗霍山石斛种子和其他品种种子在不同强度红外照射、不同干燥程度以及不同光线的环境下进行光谱分析，从而能够有效确定在不同环境下正宗霍山石斛的特有光谱，从而为正宗霍山石斛的筛选提供了精准的参照依据，避免了在筛选正宗霍山石斛种子时出现其他品种种子混淆的情况，提高了正宗霍山石斛选种的精确性，而且在分析之前将傅里叶红外(FT‑IR)光谱仪放置在恒温箱内，并将傅里叶红外(FT‑IR)光谱仪的系统温度控制在10至30摄氏度范围内，可以获得较好的测量精度，其次仪器的部件及设计在10‑30℃范围内具有更高的可靠性，从而有效排除了低温或者高温对分析结果的影响。