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用于测量两个物理量的装置

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摘要

用于测量至少一个物理量的装置(1)包括产生直流电压(VIN)的至少一个源发生器(SC)、耦合到所述源发生器(SC)并且被配置为测量物理量的至少一个测量传感器(AC、RTD)。所述装置还包括耦合到所述传感器(AC、RTD)并且被配置为产生恒定的直流电流(I0)的电流调节器(PCS)。

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2023-02-28

实质审查的生效 IPC(主分类):G01P15/09 专利申请号:2021101899378 申请日:20210218

实质审查的生效

1. 用于测量两个物理量的装置 [P] . 中国专利： CN113281536A . 2021-08-20
2. 用于支撑振动器的结构以及用于测量物理量的装置 [P] . 中国专利： CN102003956B . 2012.06.06
3. A calibration method for a temperature measuring device, a calibrating device for a temperature measuring device, a calibration method for a physical quantity measuring device, and a calibration device for a physical quantity measuring device [P] . KR20210091297A . 2021-07-21

机译：温度测量装置的校准方法，温度测量装置的校准装置，物理量测量装置的校准方法，以及用于物理量测量装置的校准装置
4. PHYSICAL QUANTITY CHANGE MEASURING DEVICE, PHYSICAL QUANTITY CHANGE MEASURING METHOD, PROGRAM FOR MEASURING PHYSICAL QUANTITY CHANGE, AND RECORDING MEDIUM RECORDING THE PROGRAM [P] . 日本专利： JP2008122291A . 2008-05-29

机译：物理量变化测量装置，物理量变化测量方法，用于测量物理量变化的程序以及记录该程序的介质
5. Circuit for processing signals supplied by two sensors, which measure differentially a physical quantity [P] . 欧洲知识产权局专利： EP0415251B1 . 1993-03-17

机译：用于处理由两个传感器提供的信号的电路，这两个传感器以差分方式测量物理量