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激光选区熔化加工过程旁轴监测方法、装置及计算机设备

摘要

本发明涉及一种激光选区熔化加工过程旁轴监测方法、装置、计算机设备及计算机可读介质,方法包括:获取单次激光扫描过程中依次采集熔池的多张扫描图像;将多张扫描图像进行叠加,获得过程监测图像;基于程监测图像进行图像分析,确定单次激光扫描过程是否存在缺陷;若存在缺陷,对存在缺陷的区域重新激光扫描。本发明针对具有缺陷的区域进行重新激光扫描,对激光扫描过程的动态监测,控制零件的成型质量,保证激光选区熔化的工艺稳定性和加工质量。

著录项

  • 公开/公告号CN113245566A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN202110521117.4

  • 发明设计人 郎利辉;郑航;

    申请日2021-05-13

  • 分类号B22F12/90(20210101);B22F10/28(20210101);B22F12/00(20210101);B22F10/31(20210101);B33Y30/00(20150101);B33Y40/00(20200101);

  • 代理机构11385 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司;

  • 代理人程江涛

  • 地址 100089 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2023-06-19 12:14:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-06

    授权

    发明专利权授予

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