公开/公告号CN113253627A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-08-13
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申请/专利权人 上海市特种设备监督检验技术研究院;
申请/专利号CN202110575497.X
申请日2021-05-26
分类号G05B17/02(20060101);B66C13/16(20060101);B66C13/48(20060101);B66C13/50(20060101);B66C15/00(20060101);B66C15/04(20060101);G01D21/02(20060101);G06F30/20(20200101);
代理机构31225 上海科盛知识产权代理有限公司;
代理人丁云
地址 200062 上海市普陀区金沙江路915号
入库时间 2023-06-19 12:13:22
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-03-03
发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G05B17/02 专利申请号:202110575497X 申请公布日:20210813
发明专利申请公布后的撤回
机译: 用于构成验证平台的集成电路模型的功能验证方法,设备仿真器和验证平台
机译: 组成验证平台,仿真器设备和验证平台的集成电路模型的功能验证方法。
机译: 用于构建验证平台的集成电路模型的功能验证方法,仿真器设备和验证平台