首页> 中国专利> 一种基于多参数正则化的综合孔径辐射计反演处理方法

一种基于多参数正则化的综合孔径辐射计反演处理方法

摘要

本发明公开了一种基于多参数正则化的综合孔径辐射计反演处理方法。本发明包括以下步骤:1)利用综合孔径辐射计采集观测场景的可见度函数数据,对可见度函数数据进行处理后获得可见度函数V;根据综合孔径辐射计的系统特性参数计算获得综合孔径辐射计的系统调制矩阵G;2)根据可见度函数V和系统调制矩阵G,利用多参数正则化方法获得特征正则化参数向量;3)根据特征正则化参数向量,反演获得观测场景的亮温分布数据,最终获得观测场景的亮温图像。本发明构造多参数正则化项,并利用广义交叉验证准则选取多个特征正则化参数;能够有效地降低图像重构误差,提高反演成像的亮温精度。

著录项

  • 公开/公告号CN113203479A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江理工大学;

    申请/专利号CN202110474044.8

  • 发明设计人 杨晓城;杨真乙;蒋明峰;

    申请日2021-04-29

  • 分类号G01J5/00(20060101);G06F17/18(20060101);G06F17/16(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人林超

  • 地址 310018 浙江省杭州市江干经济开发区2号大街928号

  • 入库时间 2023-06-19 12:05:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-18

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01J 5/00 专利申请号:2021104740448 申请公布日:20210803

    发明专利申请公布后的视为撤回

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号