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电磁波测量用探头和电磁波测量系统以及束状光纤

摘要

提供一种能够通过差分测定来测量电磁波的空间分布状态的电磁波测量用探头。本发明的电磁波测量用探头具备:具有探头结构的第1测定部、以及具有探头结构的第2测定部,其中,该探头结构包括:发挥电光效应的电光晶体、设置在电光晶体的根基侧且传递光信号的光纤、以及设置在该电光晶体的前端侧且反射所述光信号的反射部,在与所述光纤的轴向垂直的第1方向及第2方向上,所述电光晶体的尺寸设定为所述测量对象电磁波的波长的1/2以下,由此能够进行高精度的电磁波的测量。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-07-04

    发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01R29/08 专利申请号:2019800705412 申请公布日:20210730

    发明专利申请公布后的撤回

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