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一种应用于Flash智能分析检测的检测方法、系统、智能终端以及计算机可读存储介质

摘要

本发明涉及一种应用于Flash智能分析检测的检测方法、系统、智能终端以及计算机可读存储介质,其包括S1、获取Column总集、Page总集以及Block总集,预设坏Column总集、坏Page总集、错误阈值,以及初始坏Block模板;S2、基于错误阈值从Block总集中依次交替获取坏Page元素和坏Column元素,并依次交替更新坏Page总集和坏Column总集;S3、基于对应于不同错误阈值的各个坏Column总集和对应于不同错误阈值的各个坏Page总集,按照坏模板迭代策略更新错误阈值,从各个坏Column总集中获取最终Column总集,并从各个坏Page总集中获取最终Page总集;S4、获取最终坏Block模板。本发明具有降低bad Page对后续选取坏Column元素的操作造成的影响,减少虚假bad Column的产生,进而提高Nand Flash分析检测后的有效容量的效果。

著录项

  • 公开/公告号CN113053450A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳三地一芯电子有限责任公司;

    申请/专利号CN202110247275.5

  • 发明设计人 张如宏;胡来胜;陈向兵;张辉;

    申请日2021-03-05

  • 分类号G11C29/04(20060101);G11C29/10(20060101);

  • 代理机构11508 北京维正专利代理有限公司;

  • 代理人任志龙

  • 地址 518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道岗头社区天安云谷产业园二期4栋2309-2310

  • 入库时间 2023-06-19 11:39:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-08-16

    著录事项变更 IPC(主分类):G11C29/04 专利申请号:2021102472755 变更事项:申请人 变更前:深圳三地一芯电子有限责任公司 变更后:深圳三地一芯电子有限责任公司 变更事项:地址 变更前:518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道岗头社区天安云谷产业园二期4栋2309-2310 变更后:518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道岗头社区天安云谷产业园二期4栋4层402-406

    著录事项变更

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