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产品表面缺陷的检测方法、设备及存储介质

摘要

本申请提供了一种产品表面缺陷的检测方法、设备及存储介质,涉及图像处理技术领域,该方法包括:获取待检测产品的产品表面图像,待检测产品为表面具有多个纹理元素的产品,对产品表面图像进行二值化处理,得到产品表面图像对应的二值图像,二值图像中包括多个连通区域,根据多个连通区域,将产品表面图像分割为多个纹理图像,提取每个纹理图像的高斯马尔可夫特征,并根据每个纹理图像的高斯马尔可夫特征和预设的高斯马尔可夫特征,对待检测产品进行表面缺陷检测。由于高斯马尔可夫特征能很好地描述纹理特征,采用本方案对产品进行表面缺陷检测,检测效率高且检测精准度高。

著录项

  • 公开/公告号CN112950594A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN202110250398.4

  • 申请日2021-03-08

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/41(20170101);G06T7/66(20170101);

  • 代理机构11463 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人曹瑞敏

  • 地址 100000 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2023-06-19 11:21:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-06-23

    授权

    发明专利权授予

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