技术领域
本发明属于测量装置技术领域,尤其涉及一种非完整弧段半径测量装置。
背景技术
在制造业领域中,为了保证零部件的制造质量,需要对零部件各个形状要素特征进行测量,然而,在实际工作中,时常遇到一些具有复杂形状的零部件,需要测量其上非完整弧段特征的半径,对于该项尺寸要素,目前没有专门的测量器具,现有技术主要有两中测量方法,第一种测量方法首先测出非完整弧段某两点之间的弦长和其所对应的弦高,再经过复杂的计算得出相应的弧段半径,采用这种方法,一方面弦长和弦高的测量误差本身较大,再经过复杂的计算后,误差进一步扩大,不仅容易出错,测量工作耗费时间过长,并且测量结果精度和可靠性均较低;第二种测方法是采用三坐标仪对该非完整弧段各个点的坐标进行测量,这种测量方法耗时时间长,而且三坐标仪价格不菲,对于一些中小规模的企业而言,难以承受,硬件投资成本较高。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提供了一种非完整弧段半径测量装置。
本发明通过以下技术方案得以实现。
本发明提供一种非完整弧段半径测量装置,主要包括主尺和副尺,所述副尺套合于所述主尺之上并且可沿着所述主尺长度方向相对滑动,在所述主尺上等间距地标印有m条主刻度线,并且在所述主尺上还按照自然数递增的顺序从零开始标印有与m条主刻度线一一对应的主刻数,在所述副尺上等间距地标印有n条副刻度线,并且在所述副尺上还按照自然数递增的顺序从零开始标印有与n条副刻度线一一对应的副刻数,m、n均为正整数,并且m≥n,所述副尺之上n条副刻度线的总长度与所述主尺之上n-1条主刻度线的总长度相等,所述主尺下表面作为基准面,所述主尺上还固定连接有主尺臂,所述副尺上还固定连接有副尺臂,所述主尺臂、副尺臂彼此相对対置的两个表面分别作为定位面、夹持面,所述定位面与所述基准面之间的倾角等于所述夹持面与所述基准面之间的倾角,当使所述定位面、夹持面、基准面与所述主刻数为零所对应的主刻度线相交于一点时,所述主刻数为零所对应的主刻度线与所述副刻数为零所对应的副刻度线共线。
所述定位面与所述基准面之间的倾角或所述夹持面与所述基准面之间的倾角均为120°。
所述副尺上有50条副刻度线,相邻两条主刻度线间距为1mm。
当使所述定位面、夹持面、基准面与所述主刻数为零所对应的主刻度线相交于一点时,所述主刻数为零所对应的主刻度线与所述夹持面共面。
所述副尺上还螺接有锁紧螺钉A,锁紧螺钉A用于限定所述副尺相对于所述主尺长度方向上的位置。
所述非完整弧段半径测量装置还包括微调尺,微调尺套合于所述主尺之上并且可沿着所述主尺长度方向相对滑动,微调尺之上套装有可沿着所述主尺长度方向相对滑动的顶杆,顶杆之上螺接有微调螺母,微调螺母用于限定顶杆相对于所述主尺长度方向上的位置。
所述微调尺之上还螺接有锁紧螺钉B,锁紧螺钉B用于限定所述微调尺相对于所述主尺长度方向上的位置。
所述副尺与副尺臂是一体制造成型的。
所述主尺臂是通过使用螺钉与所述主尺固定连接的。
所述主尺上还标印有量程,量程与所述主尺上m条主刻度线的总长度相对应。
本发明的有益效果在于:采用本发明的技术方案,在对零件上的非完整弧段半径进行测量时,通过主尺臂、副尺臂夹持待测量的非完整弧段,并使该待测量的非完整弧段与所述基准面、定位面、夹持面相贴合,即可从主尺与副尺之间的配合读取获得非完整弧段半径,本发明利用了简单的几何数学原理,免去了复杂的运算过程,操作类似于游标卡尺,简单且方便,易于技术人员掌握,简化了测量过程,减少了测量过程中产生的累计误差,提高了测量精度,测量结果可靠性较高,本发明具有结构简单、操作方便高效,测量精度高等优点,可以在机械制造领域中广泛推广应用。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
图中:1-主尺,2-副尺,3-主刻度线,4-副刻度线,13-主尺臂,14-副尺臂,6-定位面,7-夹持面,5-基准面,8-锁紧螺钉A,9-微调尺,10-顶杆,11-微调螺母,12-锁紧螺钉B。
具体实施方式
下面进一步描述本发明的技术方案,但要求保护的范围并不局限于所述。
如图1所示,本发明提供一种非完整弧段半径测量装置,包括主尺1和副尺2,副尺2套合于主尺1之上并且可沿着主尺1长度方向相对滑动,在主尺1上等间距地标印有m条主刻度线3,并且在主尺1上还按照自然数递增的顺序从零开始标印有与m条主刻度线3一一对应的主刻数,在副尺上等间距地标印有n条副刻度线4,并且在副尺2上还按照自然数递增的顺序从零开始标印有与n条副刻度线4一一对应的副刻数,m、n均为正整数,并且m≥n,副尺2之上n条副刻度线4的总长度与主尺1之上n-1条主刻度线3的总长度相等,主尺1下表面作为基准面5,主尺1上还固定连接有主尺臂13,副尺2上还固定连接有副尺臂14,主尺臂13、副尺臂14彼此相对対置的两个表面分别作为定位面6、夹持面7,定位面6与基准面5之间的倾角等于夹持面7与基准面5之间的倾角,当使定位面6、夹持面7、基准面5与主刻数为零所对应的主刻度线3相交于一点时,主刻数为零所对应的主刻度线3与副刻数为零所对应的副刻度线4共线。
进一步地,优选定位面6与基准面5之间的倾角或夹持面7与基准面5之间的倾角均为120°。副尺2上有50条副刻度线4,相邻两条主刻度线3间距为1mm。
另外,当使定位面6、夹持面7、基准面5与主刻数为零所对应的主刻度线3相交于一点时,主刻数为零所对应的主刻度线3与夹持面7共面。副尺2上还螺接有锁紧螺钉A8,锁紧螺钉A8用于限定副尺2相对于主尺1长度方向上的位置。
此外,非完整弧段半径测量装置还包括微调尺9,微调尺9套合于主尺1之上并且可沿着主尺1长度方向相对滑动,微调尺9之上套装有可沿着主尺1长度方向相对滑动的顶杆10,顶杆10之上螺接有微调螺母11,微调螺母11用于限定顶杆10相对于主尺1长度方向上的位置。微调尺9之上还螺接有锁紧螺钉B12,锁紧螺钉B12用于限定微调尺9相对于主尺1长度方向上的位置。
进一步地,副尺2与副尺臂14是一体制造成型的。主尺臂13是通过使用螺钉与主尺1固定连接的。主尺1上还标印有量程,量程与主尺1上m条主刻度线3的总长度相对应。量程为0-150mm、5-300mm或5-500mm。
另外,使用非完整弧段半径测量装置时,包括以下步骤:使用如前所述的非完整弧段半径测量装置,通过主尺臂13、副尺臂14夹持待测量的非完整弧段,并使该待测量的非完整弧段与基准面5、定位面6、夹持面7相贴合,读取获得副刻数为零所对应的主刻数为X,读取获得副尺2上与任意一条主刻度线3对齐的副刻度线4所对应的副刻数为Y,定位面6与基准面5之间的倾角或夹持面7与基准面5之间的倾角均为β,则通过下式计算获得非完整弧段半径R:
采用本发明的技术方案,在对零件上的非完整弧段半径进行测量时,通过主尺臂、副尺臂夹持待测量的非完整弧段,并使该待测量的非完整弧段与基准面、定位面、夹持面相贴合,即可从主尺与副尺之间的配合读取获得非完整弧段半径,本发明利用了简单的几何数学原理,免去了复杂的运算过程,操作类似于游标卡尺,简单且方便,易于技术人员掌握,简化了测量过程,减少了测量过程中产生的累计误差,提高了测量精度,测量结果可靠性较高,本发明具有结构简单、操作方便高效,测量精度高等优点,可以在机械制造领域中广泛推广应用。
机译: 测量弧段半径的设备
机译: 可变圆弧直尺,用于绘制半径较大的圆弧的较长弧段
机译: 一种用于测量半径并控制旋转盘半径减小的装置