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一种基于薄膜干涉原理的新型土木工程结构变形监测装置

摘要

本发明公开了一种基于薄膜干涉原理的新型土木工程结构变形监测装置,包括土木工程主体、第一薄膜、第二薄膜、第一固定框架和可转动连接杆,所述土木工程主体的上端设有支撑架,所述支撑架的内侧连接有第一固定框架,所述第一固定框架的上部连接有第二固定框架,所述第一固定框架和第二固定框架的右侧连接有可转动连接杆,所述可转动连接杆的上部通过紧定螺栓与第二固定框架相连接,所述支撑架的上部设有平行单色光源,所述第二固定框架的内部设有第一薄膜和第二薄膜,本发明通过第一薄膜和第二薄膜设计实验来检测土木工程结构表面的平整度,通过薄膜干涉原理可以同时对结构表面进行检测,并且可以提高平面检测的准确度。

著录项

  • 公开/公告号CN112857245A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉科技大学;

    申请/专利号CN202110135236.6

  • 发明设计人 汪丁;金清平;

    申请日2021-02-01

  • 分类号G01B11/16(20060101);

  • 代理机构34166 安徽潍达知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李英姿

  • 地址 430000 湖北省武汉市青山区和平大道947号

  • 入库时间 2023-06-19 11:08:20

说明书

技术领域

本发明涉及土木工程结构检测技术领域,具体是一种基于薄膜干涉原理的新型土木工程结构变形监测装置。

背景技术

土木工程结构检测不仅关系到建筑物是否符合使用等级以及表面是否出现变形,更是关系到土木工程质量以及人民群众的财产安全,现代土木工程主体结构主要是混凝土结构,并且混凝土结构质量以及强度和稳定性,都对整个工程建筑的质量与安全性造成直接影响,要想全面提高土木工程质量,就要求其必须进行全面主体结构检测工作,薄膜干涉原理是由于光照射到薄膜时,从薄膜的前后表面或上下表面分别反射出两列波发生干涉,由于反射光波相同,叠加后相互加强,产生明纹,从而达到检测表面是否平整的目的,传统的变形监测装置检测效率比较低,并且不能保证检测变形的准确性,从而降低了对变形监测装置的使用率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于薄膜干涉原理的新型土木工程结构变形监测装置,以解决传统变形监测装置检测效率比较低,并且不能保证检测变形的准确性,从而降低了对变形监测装置的使用率的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种基于薄膜干涉原理的新型土木工程结构变形监测装置,包括土木工程主体、第一薄膜、第二薄膜、支撑架、第一固定框架和可转动连接杆,所述土木工程主体的上端设有支撑架,所述支撑架的内侧连接有第一固定框架,所述第一固定框架的上部连接有第二固定框架,且第一固定框架和第二固定框架的左侧连接有端部连接轴,所述第一固定框架和第二固定框架的右侧连接有可转动连接杆,所述可转动连接杆的上部通过紧定螺栓与第二固定框架相连接,所述支撑架的上部设有平行单色光源,所述第二固定框架的内部设有第一薄膜和第二薄膜,所述第一薄膜和第二薄膜的中部均设有第一反射光和第二反射光。

优选的,所述可转动连接杆的下部通过连接轴与第一固定框架相连接,所述可转动连接杆的中部设有螺栓滑动槽,可以使可转动连接杆能够沿着第一固定框架进行转动。

优选的,所述支撑架通过紧定螺钉与第一固定框架相连接,且第一固定框架的长度小于支撑架的长度,将第一固定框架安装固定在支撑架内侧。

优选的,所述第一薄膜和第二薄膜的中部设有连接杆,所述第一薄膜和第二薄膜的厚度小于第二固定框架,可以提高第一薄膜和第二薄膜的稳定性,也能增大第一薄膜和第二薄膜使用面积。

优选的,所述平行单色光源均设有2个,且平行单色光源通过螺钉与支撑架相连接,可以将平行单色光源分别固定在第一薄膜和第二薄膜的上部。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明利用薄膜干涉原理使两束相干光存在光程差,从而会出现干涉现象,并且通过第一薄膜和第二薄膜设计实验来检测土木工程结构表面的平整度,通过薄膜干涉原理可以同时对结构表面进行检测,并且可以提高平面检测的准确度,通过第一固定框架和第二固定框架可以便于对土木结构的表面进行检测,同时提高了检测的效率。

附图说明

图1为本发明主视结构示意图。

图2为本发明俯视结构示意图。

图中:1-土木工程主体、2-第一固定框架、3-第二固定框架、4-可转动连接杆、5-支撑架、6-平行单色光源、7-端部连接轴、8-紧定螺栓、9-第一反射光、10-第二反射光、11-第一薄膜、12-第二薄膜。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

请参阅图1~2,本发明实施例中,一种基于薄膜干涉原理的新型土木工程结构变形监测装置,包括土木工程主体1、第一薄膜11、第二薄膜12、支撑架5、第一固定框架2和可转动连接杆4,所述土木工程主体1的上端设有支撑架5,支撑架5可以将第一固定框架2进行固定,所述支撑架5的内侧连接有第一固定框架2,所述第一固定框架2的上部连接有第二固定框架3,第二固定框架3便于将第一薄膜11和第二薄膜12进行固定,且第一固定框架2和第二固定框架3的左侧连接有端部连接轴7,可以使第二固定框架3能够沿着端部连接轴7进行转动,所述第一固定框架2和第二固定框架3的右侧连接有可转动连接杆4,利用可转动连接杆4可以调节第二固定框架3的高度,所述可转动连接杆4的上部通过紧定螺栓8与第二固定框架3相连接,利用紧定螺栓8可以将第二固定框架3进行固定,所述支撑架1的上部设有平行单色光源6,所述第二固定框架3的内部设有第一薄膜11和第二薄膜12,利用第一薄膜11和第二薄膜12可以检测土木工程结构的表面,所述第一薄膜11和第二薄膜12的中部均设有第一反射光9和第二反射光10,利用第一反射光9和第二反射光10可以提高土木工程结构检测的准确性。

所述可转动连接杆4的下部通过连接轴与第一固定框架2相连接,所述可转动连接杆4的中部设有螺栓滑动槽,可以使可转动连接杆4能够沿着第一固定框架2进行转动。

所述支撑架5通过紧定螺钉与第一固定框架2相连接,且第一固定框架2的长度小于支撑架5的长度,将第一固定框架2安装固定在支撑架5内侧。

所述第一薄膜11和第二薄膜12的中部设有连接杆,所述第一薄膜11和第二薄膜12的厚度小于第二固定框架3,可以提高第一薄膜11和第二薄膜12的稳定性,也能增大第一薄膜11和第二薄膜12使用面积。

所述平行单色光源6均设有2个,且平行单色光源6通过螺钉与支撑架5相连接,可以将平行单色光源6分别固定在第一薄膜11和第二薄膜12的上部。

本发明的工作原理是:该变形监测装置在使用时,先将支撑架5放置在土木工程主体1的上部,利用紧定螺钉将第一固定框架2固定在支撑架5的内部,可以提高第一固定框架2的稳定性,通过螺纹连接可以调节紧定螺栓8的位置,使紧定螺栓8能够沿着可转动连接杆4进行上下移动,同时利用端部连接轴7使第二固定框架3能沿着第一固定框架2进行转动,从而能够达到调节第二固定框架3高度的目的,通过平行单色光源6可以对第一薄膜11和第二薄膜12进行光照,使第一反射光9和第二反射光10能够交互形成,从而能够达到检测土木工程主体1的目的,具有结构简单,操作方便的特点。

对于本领域技术人员而言,显然本发明不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本发明。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

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