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一种用于电镜观察的微米级球形颗粒截面的制备方法

摘要

本发明公开了一种用于电镜观察的微米级球形颗粒截面的制备方法,包括如下步骤:(1)将导电胶带粘贴于导电金属基体上;(2)取微米级球形颗粒粉末平铺粘在导电胶带上,并吹走多余粉末;(3)将粘有粉末的导电金属基体置于离子束抛光机内进行抛光,采用平面抛光模式,抛光角度为0~2°,抛光电压和时间为5~8kV 5~40min+3~5kV 5~20min+0.5~2kV 5~20min,即可获得满足扫描电镜观察的颗粒截面。本发明不需要包埋处理,不用消耗额外的制样耗材;时间短,成本低,操作性强;耗时仅为截面抛光模式的十分之一,抛光效率高;获得的样品有效面积大,用于扫描电镜观察的可选择区域多。

著录项

  • 公开/公告号CN112858362A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆大学;

    申请/专利号CN202110023510.0

  • 申请日2021-01-08

  • 分类号G01N23/2251(20180101);G01N23/2202(20180101);G01N1/32(20060101);

  • 代理机构50241 重庆双马智翔专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人顾晓玲

  • 地址 400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号

  • 入库时间 2023-06-19 11:08:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-27

    授权

    发明专利权授予

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