基于背景光的E-TPU鞋中底缺陷检测方法及系统

摘要

本发明提供了一种基于背景光的E‑TPU鞋中底缺陷检测方法及系统。该方法包括：搭建背景光源；基于背景光源采集被检测E‑TPU鞋中底的图像；基于被检测E‑TPU鞋中底的图像对被检测E‑TPU鞋中底位置进行配准及旋转，获得配准后鞋中底图像；对配准后鞋中底图像进行超像素分割，获得多个超像素；根据超像素对被检测E‑TPU鞋中底进行缺陷检测，获得缺陷检测结果。相应地，该系统包括：背景光源搭建模块，配准和旋转模块，超像素分割模块、缺陷检测模块。本发明系统结构简单，智能化，被用来检测E‑TPU鞋中底表面的缺陷，并将该类缺陷预先分拣出，降低对后续缺陷检测过程的干扰，也可以实现在背景光源下对E‑TPU鞋中底缺陷在线检测，提高了缺陷检测效率和准确性。