公开/公告号CN112762791A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-05-07
原文格式PDF
申请/专利号CN202110168138.2
申请日2021-02-04
分类号G01B5/02(20060101);G01B3/20(20060101);G01B5/14(20060101);B26B13/22(20060101);
代理机构11237 北京市广友专利事务所有限责任公司;
代理人张仲波
地址 100191 北京市海淀区西土城路33号
入库时间 2023-06-19 10:54:12
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-07-04
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B 5/02 专利申请号:2021101681382 申请公布日:20210507
发明专利申请公布后的驳回
机译: 一维尺寸测量装置和一种适用于该尺寸测量装置的工作机以及一种使用该尺寸测量装置的一维测量方法
机译: 粒子尺寸测量单元,使用粒子尺寸测量单元的粒子尺寸测量方法,粒子尺寸测量装置和粒子尺寸校正方法
机译: 一种测量空心物体的内表面的形状,尺寸和弹性性能的方法,一种构建空心物体的内表面的三维模型的方法,一种用于测量内部物体的形状,尺寸和弹性性能的装置空心物体的表面,以及建立空心物体内表面的三维模型