电子倍增器的测试系统和测试方法

摘要

本申请涉及电子倍增器技术领域，公开一种电子倍增器的测试系统。该电子倍增器的测试系统包括真空腔室、电子测试工位、离子测试工位和可移动靶台，其中，真空腔室用于为测试提供真空环境；电子测试工位设置在所述真空腔室内；离子测试工位设置在所述真空腔室内；可移动靶台设置在所述真空腔室内，用于放置被测电子倍增器，可拖动所述被测电子倍增器在所述电子测试工位与所述离子测试工位之间移动。该电子倍增器的测试系统可在同一真空环境下提供电子源和离子源对被测电子倍增器进行测试，提高了测试效率。本公开实施例还提供了一种电子倍增器的测试方法。

说明书

技术领域

本申请涉及电子倍增器技术领域，例如涉及一种电子倍增器的测试系统和测试方法。

背景技术

铯原子钟在导航定位、守时授时等领域具有重要作用，电子倍增器作为铯原子钟内的核心部件，其性能直接影响铯钟的整体性能。目前对电子倍增器的测试装置主要采用电子源作为入射源，不能在同一真空环境下提供电子源和铯离子源对电子倍增器进行测试。

发明内容

为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围，而是作为后面的详细说明的序言。

本公开实施例提供了一种电子倍增器的测试系统和测试方法，以解决现有技术不能在同一真空环境下提供电子源和铯离子源对电子倍增器进行测试的技术问题。

在一些实施例中，所述电子倍增器的测试系统包括真空腔室、电子测试工位、离子测试工位和可移动靶台，其中，所述真空腔室用于为测试提供真空环境；所述电子测试工位设置在所述真空腔室内；所述离子测试工位设置在所述真空腔室内；所述可移动靶台设置在所述真空腔室内，用于放置被测电子倍增器，可拖动所述被测电子倍增器在所述电子测试工位与所述离子测试工位之间移动。

可选地，所述可移动靶台包括多个电子倍增器安装工位；其中，每个电子倍增器安装工位设置接线端；所述电子测试工位和所述离子测试工位均设置导电滚轮，所述导电滚轮的位置与所述接线端的位置相对应。

可选地，所述可移动靶台为圆形可移动靶台，多个所述电子倍增器安装工位沿所述圆形可移动靶台的边沿设置。

可选地，所述电子测试工位包括电子发射组件和信号检测组件；所述离子测试工位包括离子发射组件。

在一些实施例中，电子倍增器的测试方法应用于前述实施例提供的电子倍增器的测试系统，所述测试方法包括：在可移动靶台将被测电子倍增器移动至电子测试工位后，对所述被测电子倍增器进行暗电流测试；如果所述被测电子倍增器满足暗电流合格条件，则检测可移动靶台是否将所述被测电子倍增器移动至离子测试工位，若是，则对所述被测电子倍增器进行离子增益测试；如果所述被测电子倍增器满足离子增益合格条件，则对所述被测电子倍增器进行寿命测试；记录测试结果。

可选地，对所述被测电子倍增器进行暗电流测试，包括：在所述电子测试工位对所述被测电子倍增器进行多次暗电流测试；如果在多次测试中，所述被测电子倍增器至少有一次满足暗电流合格范围，则确定所述被测电子倍增器满足所述暗电流合格条件。

可选地，在所述电子测试工位对所述被测电子倍增器进行第一次暗电流测试；如果所述被测电子倍增器不满足所述暗电流合格范围，则通过电子发射组件对所述被测电子倍增器进行电子束清刷；在所述电子测试工位对所述被测电子倍增器进行第二次暗电流测试；如果所述被测电子倍增器满足所述暗电流合格范围，则确定所述被测电子倍增器满足所述暗电流合格条件。

可选地，通过电子发射组件对所述被测电子倍增器进行电子束清刷，包括：通过电子发射组件向所所述被测电子倍增器发射强度在第一设定范围内的电子束流。

可选地，在对所述被测电子倍增器测试的过程中，向所述被测电子倍增器施加第二设定范围内的电压。

可选地，对所述被测电子倍增器进行离子增益测试，包括：通过离子发射组件向所述被测电子倍增器发射强度在第三设定范围内的电子束流。

在一些实施例中，电子倍增器的测试装置包括：处理器和存储有程序指令的存储器，所述处理器被配置为在执行所述程序指令时，执行前述实施例提供的电子倍增器的测试方法。

本公开实施例提供的电子倍增器的测试系统和测试方法，可以实现以下技术效果：

在同一真空腔室内设置有电子测试工位和离子测试工位，可移动靶台将被测电子倍增器移动至电子测试工位，可为被测电子倍增器提供电子源进行测试；可移动靶台将被测电子倍增器移动至离子测试工位，可为被测电子倍增器提供离子源进行测试，这样即可在同一真空环境下提供电子源和铯离子源对被测电子倍增器进行测试，提高了测试效率。

以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请。

附图说明

一个或一个以上实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明和附图并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件视为类似的元件，并且其中：

图1是本公开实施例提供的一种电子倍增器的测试系统的示意图；

图2是本公开实施例提供的一种可移动靶台的示意图；

图3是本公开实施例提供的一种电子倍增器的测试方法的示意图；

图4是本公开实施例提供的一种对被测电子倍增器进行暗电流测试的过程的示意图；

图5是本公开实施例提供的一种电子倍增器的测试方法的示意图；

图6是本公开实施例提供的一种电子倍增器的测试装置的示意图。

附图标记：

1、观察窗；2、真空腔室；3、被测电子倍增器；4、接线端；5、导电滚轮；6、可移动靶台；7、导电杆；8、电子枪；9、铯离子发射器；10、手柄；11、电子源电源；12、高压源；13、静电计；14、离子源电源；15、真空泵组；16、电缆接口。

具体实施方式

为了能够更加详尽地了解本公开实施例的特点与技术内容，下面结合附图对本公开实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本公开实施例。在以下的技术描述中，为方便解释起见，通过多个细节以提供对所披露实施例的充分理解。然而，在没有这些细节的情况下，一个或一个以上实施例仍然可以实施。在其它情况下，为简化附图，熟知的结构和装置可以简化展示。

本公开实施例的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本公开实施例的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。

除非另有说明，术语“多个”表示两个或两个以上。

铯原子钟在导航定位、守时授时等领域具有重要作用，电子倍增器作为铯原子钟内的核心部件，其性能直接影响铯钟的整体性能。本公开实施例中提供了一种电子倍增器的测试系统和测试方法，在同一真空腔室内同时设置电子测试工位和离子测试工位，可在同一真空环境中为被测电子倍增器提供电子源和离子源对被测电子倍增器进行测试，提高了测试效率。

图1是本公开实施例提供的一种电子倍增器的测试系统的示意图。结合图1所示，电子倍增器的测试系统包括真空腔室2、电子测试工位、离子测试工位和可移动靶台6，其中，真空腔室2用于为测试提供真空环境；电子测试工位设置在真空腔室2内，用于提供电子源，可实现暗电流测试；离子测试工位设置在真空腔室2内，用于提供离子源，可实现离子增益测试和寿命测试；可移动靶台6设置在真空腔室2内，用于放置被测电子倍增器3，可拖动被测电子倍增器3在电子测试工位与离子测试工位之间移动，使被测电子倍增器3在同一真空环境完成暗电流测试、离子增益测试和寿命测试。

真空腔室2中包括真空泵组15，真空泵组15由机械泵和分子泵串联构成，用于抽离真空腔室2内的气体，以在真空腔室2中实现真空环境，例如，真空腔室2内部真空度小于或等于5×10

真空腔室2还包括观察窗1，该观察窗1可开设在真空腔室2的上端；真空腔室2还包括电缆接口16，该电缆接口16可开设在真空腔室2的下端。

在一些具体应用中，真空腔室2呈圆柱型，真空腔室2的材质为不锈钢材料，真空腔室2的截面直径为800mm，高为500mm。

电子测试工位包括电子发射组件和信号检测组件。其中，电子发射组件包括电子枪8和电子源电源11，电子枪8用于发射电子束流，例如，电子枪8可发射强度在第一设定范围内的电子束流，该第一设定范围可为0～100pA；电子源电源11用于为电子枪8供电，并可调节电子枪8发射的电子束流的强度；电子枪8设置在真空腔室2内部，电子源电源11可设置在真空腔室2外部，电子枪8可通过上述电缆接口16与设置在真空腔室2外部的电子源电源11连接。

信号检测组件包括高压源12和静电计13，高压源12用于调节被测电子倍增器3的控制电压，例如，可在第二设定范围内调节被测电子倍增器3的控制电压，该第二设定范围可为0～2500V；静电计13可检测被测电子倍增器3输出的电子束流强度。信号检测组件可设置在真空腔室2外部，与被测电子倍增器3电连接。

离子测试工位包括离子发射组件，离子发射组件包括铯离子发射器9和离子源电源14，铯离子发射器9用于发射铯离子束流，例如，铯离子发射器9可发射强度在第三设定范围内的电子束流，该第三设定范围可为0～100pA；离子源电源14用于为铯离子发射器9供电，并可调节铯离子发射器9发射离子束流的强度。铯离子发射器9设置在真空腔室2内部，离子源电源14可谁出在真空腔室2外部，铯离子发射器9通过前述电缆接口16与设置在真空腔室2外部的离子源电源14连接。

在同一真空腔室2内设置有电子测试工位和离子测试工位，可移动靶台6将被测电子倍增器3移动至电子测试工位，可为被测电子倍增器3提供电子源进行测试；可移动靶台6将被测电子倍增器3移动至离子测试工位，可为被测电子倍增器3提供离子源进行测试，这样即可在同一真空环境下提供电子源和离子源对被测电子倍增器3进行测试，提高了测试效率。

可选地，可移动靶台6包括多个电子倍增器安装工位，每个电子倍增器安装工位设置接线端4；电子测试工位和离子测试工位均设置导电滚轮5，导电滚轮5的位置与接线端4的位置相对应。

在测试过程中，被测电子倍增器3与接线端4连接，这样，被测电子倍增器3可依次通过接线端4、导电滚轮5、导电杆7与信号检测组件连接。

可移动靶台6包括多个电子倍增器安装工位，在一次抽真空后，可完成对多个电子倍增器的测试过程，提高了测试效率。

在一些应用场景中，可移动靶台6通过传动装置连接至真空腔室2外部的手柄10，例如可移动靶台6通过齿轮穿传动装置连接至真空腔室2外部的手柄10。这样，转动手柄10即可驱动可移动靶台6进行移动，实现转移被测电子倍增器3的位置，例如，将被测电子倍增器3由电子测试工位转移至离子测试工位。

在一些应用场景中，可移动靶台6通过传动装置连接至动力源，例如可移动靶台6通过齿轮传动装置连接至动力源，这里的动力源可以是电机，还可以是液压杆。可移动靶台6在动力源的驱动下移动，实现转移被测电子倍增器3的位置，例如，将被测电子倍增器3由电子测试工位转移离子测试工位。

图2是本公开实施例提供的一种可移动靶台6的示意图。结合图2所示，可移动靶台6可为圆形可移动靶台，多个电子倍增器安装工位沿圆形可移动靶台的边沿设置。这样，在将被测电子倍增器3安装在圆形可移动靶台上的电子倍增器安装工位后，随着圆形可移动靶台的移动，即可转移被测电子倍增器3的位置，实现在同一个真空环境中同时提供电子源和离子源对被测电子倍增器3进行测试，提高了测试效率。另外，圆形可移动靶台上设置多个电子倍增器安装工位，这样，在对真空腔室2抽一次真空后，即可一次性实现对多个被测电子倍增器3的测试，提高了测试效率。

图3是本公开实施例提供的一种电子倍增器的测试方法的示意图，该测试方法可应用于前述实施例提供的电子倍增器的测试系统。结合图3所示，电子倍增器的测试方法包括：

S301、在可移动靶台将被测电子倍增器移动至电子测试工位后，对被测电子倍增器进行暗电流测试。

在对被测电子倍增器进行暗电流测试之前，预先设置暗电流合格范围。例如，暗电流合格范围可以是小于或等于10pA。

暗电流测试用于对被测电子倍增器进行初步筛选，筛选出工作条件下暗电流输出合格的被测电子倍增器。

在电子倍增器的测试系统中，静电计与被测电子倍增器电连接，通过静电计检测的被测电子倍增器的输出电子束流强度，即为暗电流。

在对被测电子倍增器测试的过程中，例如在对被测电子倍增器进行暗电流测试的过程中，可向被测电子倍增器施加第二设定范围内的电压。其中，第二设定范围可为0～2500V。

可选地，对被测电子倍增器进行暗电流测试，包括：在电子测试工位对被测电子倍增器进行多次暗电流测试；如果在多次测试中，被测电子倍增器至少有一次满足暗电流合格范围，则确定被测电子倍增器满足暗电流合格条件。

在一些应用场景中，在电子测试工位对被测电子倍增器进行两次暗电流测试，如果被测电子倍增器在第一次暗电流测试中满足暗电流合格范围，则确定被测电子倍增器满足暗电流合格条件；或者，如果被测电子倍增器在第一次暗电流测试中不满足暗电流合格范围，且被测电子倍增器在第二次暗电流测试中满足电流合格范围，则确定被测电子倍增器满足暗电流合格条件；如果被测电子倍增器在第一次暗电流测试不满足暗电流合格范围，且被测电子倍增器在第二次暗电流测试中不满足暗电流合格范围，则确定被测电子倍增器不满足暗电流合格条件。

在本公开实施例中，被测电子倍增器满足暗电流合格范围，指的是被测电子倍增器在测试过程中输出的电流在暗电流合格范围内。

S302、如果被测电子倍增器满足暗电流合格条件，则检测可移动靶台是否将被测电子倍增器移动至离子测试工位，若是，则对被测电子倍增器进行离子增益测试。

在对被测电子倍增器进行离子增益测试之前，预先设置离子增益合格范围，例如，离子增益合格范围可以是大于或等于10000倍。

离子增益测试用于对被测电子倍增器进行进一步筛选，筛选出工作条件下离子增益输出合格的电子倍增器。

在对被测电子倍增器测试的过程中，例如在对被测电子倍增器进行离子增益测试的过程中，可向被测电子倍增器施加第二设定范围内的电压。其中，第二设定范围可为0～2500V。

在对被测电子倍增器进行离子增益测试的过程中，可通过离子发射组件向被测电子倍增器发射强度为第三设定范围的电子束流。该第三设定范围可为0～100pA。

在一些应用场景中，可移动靶台通过传动装置连接至真空腔室外部的手柄，可人工转动手柄，可移动靶台实现移动，将满足暗电流合格条件的被测电子倍增器移动至离子测试工位。进一步地，可在离子测试工位处设置一接近开关，用于检测离子测试工位处是否存在被测电子倍增器，例如，在被测电子倍增器靠近接近开关后，接近开关发出第一信号，用于表示已检测到物体，在被测电子倍增器原理接近开关后，接近开关发出第二信号，用于表示未检测到物体，这样，当接近开关发出第一信号后，则可确定可移动靶台已经将满足暗电流合格条件的被测电子倍增器移动至离子测试工位；或者，可设置一到位确认按键，在检测到到位确认按键被按下后，确定可移动靶台已经将满足暗电流合格条件的被测电子倍增器移动至离子测试工位。

在一些应用场景中，可移动靶台通过传动装置连接至动力源，在动力源的驱动下，可移动靶台实现移动，将满足暗电流合格条件的被测电子倍增器移动至离子测试工位。进一步地，可在离子测试工位处设置一接近开关，用于检测离子测试工位处是否存在被测电子倍增器，例如，在被测电子倍增器靠近接近开关后，接近开关发出第一信号，用于表示已检测到物体，在被测电子倍增器原理接近开关后，接近开关发出第二信号，用于表示未检测到物体，这样，当接近开关发出第一信号后，则可确定可移动靶台已经将被测电子倍增器移动至离子测试工位；或者，可设置一到位确认按键，在检测到到位确认按键被按下后，确定可移动靶台已经将满足暗电流合格条件的被测电子倍增器移动至离子测试工位。

在对电子倍增器进行离子增益的过程中，通过调整离子源电源，使被测铯离子发射器发射的离子束流强度为I

S303、如果被测电子倍增器满足离子增益合格条件，则对被测电子倍增器进行寿命测试。

在对被测电子倍增器进行离子增益测试的过程中，如果被测电子倍增器的离子增益δ在离子增益合格范围内，则确定被测电子倍增器满足离子增益合格条件；如果被测电子倍增器的离子增益δ在离子增益合格范围外，则确定被测电子倍增器不满足离子增益合格条件。

其中，对被测电子倍增器进行寿命测试，指的是在被测电子倍增器的离子增益在离子增益合格范围内的情况下，进行长时间的连续测试，直至被测电子倍增器的离子增益在离子增益合格范围外。

S304、记录测试结果。

在同一真空腔室内设置有电子测试工位和离子测试工位，可移动靶台将被测电子倍增器移动至电子测试工位，可为被测电子倍增器提供电子源进行测试；可移动靶台将被测电子倍增器移动至离子测试工位，可为被测电子倍增器提供离子源进行测试，这样即可在同一真空环境下提供电子源和离子源对被测电子倍增器进行测试。

结合图4所示，对被测电子倍增器进行暗电流测试，包括：

S401、在电子测试工位对被测电子倍增器进行第一次暗电流测试。

S402、如果被测电子倍增器不满足暗电流合格范围，则通过电子发射组件对被测电子倍增器进行电子束清刷。

其中，电子束清刷指的是电子枪产生电子束流轰击被测电子倍增器。

例如，通过电子发射组件向所被测电子倍增器发射强度在第一设定范围内的电子束流。该第一设定范围可为0～100pA。

在对被测电子倍增器进行电子束清刷的过程中，可在第二设定范围内调节被测电子倍增器的控制电压，该第二设定范围可为0～2500V。

S403、在电子测试工位对被测电子倍增器进行第二次暗电流测试。

S404、如果被测电子倍增器满足暗电流合格范围，则确定被测电子倍增器满足暗电流合格条件。

图5是本公开实施例提供的一种电子倍增器的测试方法的示意图。

结合图5所示，电子倍增器的测试方法包括：

S501、设定暗电流合格范围和离子增益合格范围；

S502、在电子测试工位进行第一次暗电流测试；

S503、判断被测电子倍增器是否满足暗电流合格范围，若是，则执行S507，否则执行S504；

S504、进行电子束清刷；

S505、在电子测试工位进行第二次暗电流测试；

S506、判断被测电子倍增器是否满足暗电流合格范围，若是，则执行S507；否则执行S509；

S507、在离子测试工位对被测电子倍增器进行离子增益测试；

S508、判断是否满足离子增益合格范围，若是，则执行S510；否则执行S509；

S509、记录为不合格；

S510、进行寿命测试；

S511、记录测试结果。

在同一真空腔室内设置有电子测试工位和离子测试工位，可移动靶台将被测电子倍增器移动至电子测试工位，可为被测电子倍增器提供电子源进行测试；可移动靶台将被测电子倍增器移动至离子测试工位，可为被测电子倍增器提供离子源进行测试，这样即可在同一真空环境下提供电子源和离子源对被测电子倍增器进行测试，提高了测试效率。

图6是本公开实施例提供的一种电子倍增器的测试装置的示意图。结合图6所示，该电子倍增器的测试装置包括：

处理器(processor)61和存储器(memory)62，还可以包括通信接口(Communication Interface)63和总线64。其中，处理器61、通信接口63、存储器62可以通过总线64完成相互间的通信。通信接口63可以用于信息传输。处理器61可以调用存储器62中的逻辑指令，以执行前述实施例提供的电子倍增器的测试方法。

此外，上述的存储器62中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

存储器62作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序，如本公开实施例中的方法对应的程序指令/模块。处理器61通过运行存储在存储器62中的软件程序、指令以及模块，从而执行功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的方法。

存储器62可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端设备的使用所创建的数据等。此外，存储器62可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器。

本公开实施例提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令设置为执行前述实施例提供的电子倍增器的测试方法。

本公开实施例提供了一种计算机程序产品，计算机程序产品包括存储在计算机可读存储介质上的计算机程序，计算机程序包括程序指令，当程序指令被计算机执行时，使计算机执行前述实施例提供的电子倍增器的测试方法。

上述的计算机可读存储介质可以是暂态计算机可读存储介质，也可以是非暂态计算机可读存储介质。

本公开实施例的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括一个或一个以上指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本公开实施例中方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质可以是非暂态存储介质，包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机读取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等多种可以存储程序代码的介质，也可以是暂态存储介质。

以上描述和附图充分地示出了本公开的实施例，以使本领域的技术人员能够实践它们。其他实施例可以包括结构的、逻辑的、电气的、过程的以及其他的改变。实施例仅代表可能的变化。除非明确要求，否则单独的部件和功能是可选的，并且操作的顺序可以变化。一些实施例的部分和特征可以被包括在或替换其他实施例的部分和特征。而且，本申请中使用的用词仅用于描述实施例并且不用于限制权利要求。如在实施例以及权利要求的描述中使用的，除非上下文清楚地表明，否则单数形式的“一个”(a)、“一个”(an)和“所述”(the)旨在同样包括复数形式。另外，当用于本申请中时，术语“包括”(comprise)及其变型“包括”(comprises)和/或包括(comprising)等指陈述的特征、整体、步骤、操作、元素，和/或组件的存在，但不排除一个或一个以上其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或这些的分组的存在或添加。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法或者设备中还存在另外的相同要素。本文中，每个实施例重点说明的可以是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分可以互相参见。对于实施例公开的方法、产品等而言，如果其与实施例公开的方法部分相对应，那么相关之处可以参见方法部分的描述。

本领域技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，可以取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法以实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本公开实施例的范围。技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

本文所披露的实施例中，所揭露的方法、产品(包括但不限于装置、设备等)，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，可以仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例。另外，在本公开实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

附图中的流程图和框图显示了根据本公开实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，模块、程序段或代码的一部分包含一个或一个以上用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这可以依所涉及的功能而定。框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。