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计算圆轨道卫星地影的方法和系统

摘要

本发明提供了一种计算圆轨道卫星地影的方法和系统,包括:步骤1:利用太阳角和卫星矢径信息,通过太阳‑轨道平面的几何关系,构建地影判别式,并判断是否存在地影;步骤2:根据地影判别式,计算临界半角;步骤3:根据太阳角和临界半角,计算地影半角;步骤4:根据地影半角和轨道周期,计算地影时长。本发明计算输入量少,计算量小,便于星上自主计算分析;计算过程简单,易于在轨地影判别;计算结果直接为一轨的地影长度,更有利于地影分析。本发明可用于圆轨道卫星轨道上的地影判断以及地影时长计算,对工程上的卫星长期任务分析和对提升星上自主地影预报速度有着重要的意义。

著录项

  • 公开/公告号CN112699527A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海卫星工程研究所;

    申请/专利号CN202011418889.7

  • 申请日2020-12-07

  • 分类号G06F30/20(20200101);G06F119/12(20200101);

  • 代理机构31334 上海段和段律师事务所;

  • 代理人高璀璀;郭国中

  • 地址 200240 上海市闵行区华宁路251号

  • 入库时间 2023-06-19 10:43:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-25

    授权

    发明专利权授予

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