非易失性芯片错误注入验证方法、装置、存储介质和终端

摘要

本发明公开了一种非易失性芯片错误注入验证方法、装置、存储介质和终端，通过预先编写错误类型，然后依次发送已经编写好的错误激励，对错误激励进行解析，在模拟模型执行相应操作时，根据错误激励判断模拟模型中执行相应操作的存储单元是否为错误激励中标记的错误存储单元，如果是，返回一个错误的值，反之，返回一个正确的值，达到错误注入的目的；其中，还可以根据错误激励重复执行擦或写操作，达到多次执行相应操作不成功的情况，使芯片的验证更加接近实际；本技术方案的错误注入机制，可定向、随机标记异常存储单元，实现验证算法的可靠性，具有操作性强、效率高、验证结果可信度高的特点。