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基于同轴带状线谐振器的复介电常数测试系统及测试方法

摘要

本发明提供一种基于同轴带状线谐振器的复介电常数测试系统及测试方法,属于微波材料介电性能测试技术领域。本发明测试系统采用带状线电容器与终端开路同轴线构成一个两端开路的谐振器,通过在测试系统的终端开路同轴线的开路端加载样品测试谐振频率与品质因数,进而反演得到材料的复介电常数。本发明测试系统的具有谐振器尺寸小、能量耦合稳定、能够手持测试,且对待测样品形状大小要求小、测试操作简单、测试精度高的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN112505429A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202011442000.9

  • 申请日2020-12-08

  • 分类号G01R27/26(20060101);

  • 代理机构51203 电子科技大学专利中心;

  • 代理人吴姗霖

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 10:16:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-15

    授权

    发明专利权授予

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