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一种用于辐射温度计检定的瞄准工作台及使用方法

摘要

本发明公开一种用于辐射温度计检定的瞄准工作台及使用方法,包括:台面,在所述台面下设置位置调节机构,在所述台面上设置滑槽装置,在所述滑槽装置的一侧设置标准固定支架,在所述标准固定支架上设置参考辐射温度计,另一侧设置被检固定支架,在被检固定支架上设置被检辐射温度计,固定支架分别设置升降机构,在升降机构上设有轴线对准器,发出的光跟对应的辐射温度计中心在同一轴线上,所述标准固定支架与被检固定支架下部设置有与滑槽衔接部分,用于使参考辐射温度计和被检辐射温度计在目标辐射源之间来回瞄准且与滑槽装置固定连接。本发明的优点是:实现简单,使得检定工作用辐射温度计准确可靠、快捷高效,提高了计量效率,节约了检定时间。

著录项

  • 公开/公告号CN112484860A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 贵州航天计量测试技术研究所;

    申请/专利号CN202011250690.8

  • 发明设计人 孙强;付杰;余辛波;

    申请日2020-11-11

  • 分类号G01J5/00(20060101);

  • 代理机构11024 中国航天科工集团公司专利中心;

  • 代理人葛鹏

  • 地址 550009 贵州省贵阳市经济技术开发区红河路7号贵阳航天工业园区

  • 入库时间 2023-06-19 10:13:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-10-27

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01J 5/00 专利申请号:2020112506908 申请公布日:20210312

    发明专利申请公布后的驳回

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