一种偏振调制哈特曼-夏克波前探测装置

摘要

本发明公开了一种偏振调制哈特曼‑夏克波前探测装置，利用波前探测目标光与背景杂散光之间偏振特性差异，通过在微透镜阵列前增加可旋转的波片和检偏器，对入射光束进行偏振调制，获取不同偏振调制状态下的强度分布阵列，并利用偏振复原方法得到单个微透镜对应区域光束偏振信息，最终计算波前斜率并复原波前像差，实现对入射光束波前探测。相对于传统哈特曼‑夏克波前探测装置，本发明专利将波前探测从强度探测维度变换到偏振探测维度，利用目标光与背景杂散光偏振特性差异，将目标光从背景杂散光中分离出来，极大提升信背比，实现强背景下波前探测。本发明特别适合强背景条件下波前探测应用领域，拓展应用范围，提升探测能力，结构简单。