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一种电子产品测试过程结构化描述方法

摘要

本发明公开了一种电子产品测试过程结构化描述方法,属于产品测试技术领域,其特征在于,包括以下步骤:a、对测试过程设计进行定义与表达;b、将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合;c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式。本发明能够解决典型机载系统测试过程描述结构化问题,实现测试过程信息准确传递和共享,达到测试设计和测试执行的协同。

著录项

  • 公开/公告号CN112415301A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 成都飞机工业(集团)有限责任公司;

    申请/专利号CN202011162746.4

  • 申请日2020-10-27

  • 分类号G01R31/00(20060101);

  • 代理机构51211 成都天嘉专利事务所(普通合伙);

  • 代理人赵凯

  • 地址 610092 四川省成都市青羊区黄田坝

  • 入库时间 2023-06-19 10:02:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-15

    授权

    发明专利权授予

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