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用于经由分布式像素互连来执行浮栅读出以用于模拟域区域特征提取的成像系统和方法

摘要

本公开涉及用于经由分布式像素互连来执行浮栅读出以用于模拟域区域特征提取的成像系统和方法。一种成像电路可包括用于实施特征提取的电路。该成像电路可包括被配置为生成像素值的像素。该像素值可任选地通过内核加权因子来依比例变化。该像素可经由源极跟随器漏极路径耦接在一起,并且该像素中的一个像素中的源极跟随器栅极可通过将该源极跟随器栅极耦接到积分器电路来选择读出以计算特征结果。可连续计算多个特征结果以检测数字域或模拟域中的事件变化。此类特征检测方案可应用于检测水平取向特征、竖直取向特征、对角取向特征或不规则形状特征。

著录项

  • 公开/公告号CN112422858A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 半导体元件工业有限责任公司;

    申请/专利号CN202010831890.6

  • 发明设计人 R·潘尼卡西;

    申请日2020-08-18

  • 分类号H04N5/378(20110101);H04N5/232(20060101);

  • 代理机构11038 中国贸促会专利商标事务所有限公司;

  • 代理人张丹

  • 地址 美国亚利桑那

  • 入库时间 2023-06-19 10:00:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-02-24

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H04N 5/378 专利申请号:2020108318906 申请公布日:20210226

    发明专利申请公布后的视为撤回

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