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一种确定支柱绝缘子和盘式绝缘子密度分布的仿真方法

摘要

本发明公开了一种确定支柱绝缘子和盘式绝缘子密度分布的仿真方法:分别确定支柱绝缘子和盘式绝缘子的几何尺寸;对支柱绝缘子和盘式绝缘子分别进行有限元网格剖分:对支柱绝缘子进行一维剖分单元格,对盘式绝缘子进行二维剖分单元格;确定仿真起始条件;分别计算支柱绝缘子和盘式绝缘子时间t时刻的颗粒运动速度;分别计算支柱绝缘子和盘式绝缘子每个单元格的流入和流出;分别计算支柱绝缘子和盘式绝缘子每个单元格的氧化铝浓度;如果时间达到70分钟,则停止计算,并依据单元格内氧化铝的浓度折算出绝缘子密度;否则,将时间增加为t+dt,重复上述步骤。本发明是获取绝缘子密度分布的经济有效手段。

著录项

  • 公开/公告号CN112380672A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN202011132923.4

  • 申请日2020-10-21

  • 分类号G06F30/20(20200101);G06F119/02(20200101);

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人吴学颖

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2023-06-19 09:55:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-03

    授权

    发明专利权授予

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