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用于基于像素测序的表征和性能分析的系统和设备

摘要

公开了一种根据测量强度确定标记信号的方法,该测量强度是由光传感器在指向样本表面(234)的传感器阵列中收集的光传感器(206、208、210、212、214)收集的,该样本表面(234)包括像素区域(206’、208’、210’、212’、214’)并在一系列采样事件期间容纳多个簇(206A、206、208A、208B、210A、210B、212A、212B、214A、214B),每个光传感器(206、208、210、212、214)在每个采样周期期间指向所述像素区域(206’、208’、210’、212’、214’)中的一个并测量来自所述像素区域中的一个的强度,该方法包括对背景强度(675)和串扰(645)的调整,并考虑了信号衰减(625)和定相(623)/预定相。通过由系统进行真值碱基调用或使用经系统运行的良好采样的可靠碱基调用,调整系数可以通过梯度下降来确定。

著录项

  • 公开/公告号CN112368567A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 因美纳有限公司;

    申请/专利号CN202080003540.9

  • 发明设计人 E·科斯特姆;

    申请日2020-05-15

  • 分类号G01N21/64(20060101);C12Q1/6874(20060101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);

  • 代理机构11280 北京泛华伟业知识产权代理有限公司;

  • 代理人王勇

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 09:52:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 专利申请号:2020800035409 申请日:20200515

    实质审查的生效

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