首页> 中国专利> 一种基于偏振光腔衰荡的激光晶体热应力双折射系数测量方法

一种基于偏振光腔衰荡的激光晶体热应力双折射系数测量方法

摘要

本发明公开了一种基于偏振光腔衰荡的激光晶体热应力双折射系数测量方法,采用激光照射加热激光晶体产生温度上升,采用偏振光腔衰荡方法测量激光晶体在不同温度时的热应力双折射相位差,从而获得激光晶体的热应力双折射系数。本方法利用偏振光腔衰荡方法测量应力双折射的高灵敏度和高精度特性,可以测量激光晶体非常低的热应力双折射和热应力双折射系数及其二维空间分布,从而大大提高了激光晶体低热应力双折射系数及其空间分布的测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN112345465A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202011227730.7

  • 发明设计人 李斌成;王静;肖石磊;

    申请日2020-11-06

  • 分类号G01N21/23(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 09:52:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-08-30

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/23 专利申请号:2020112277307 申请公布日:20210209

    发明专利申请公布后的视为撤回

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号