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一种扫描调制式激光颗粒度测量装置

摘要

本发明公开的一种扫描调制式激光颗粒度测量装置,属于材料分析测量领域。本发明主要由光强调制准直激光器、主框架、透明样品池、小孔光电探测器、扫描电机以及配套的驱动、采集、信号处理系统组成。利用机械扫描方案取代传统的分布式多探测器布局方案,实现对粉末颗粒衍射散射光分布规律的探测,具有结构简单、成本低、探测器数量少、角度分辨力高、信号处理过程简单的优点。利用交流调制的激光光源取代传统的光强稳定光源,实现交流光电接收、窄带交流放大,有效抑制阳光、照明光等环境光对测量系统的干扰,从而取消体积庞大的暗室和避光结构,不仅能够缩小测量系统体积,提高便携性,也利于实现工业现场应用和生产中的在线测量应用。

著录项

  • 公开/公告号CN112326517A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202011235629.6

  • 发明设计人 李华丰;薛景锋;

    申请日2020-11-06

  • 分类号G01N15/02(20060101);

  • 代理机构11639 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王民盛

  • 地址 100095 北京市海淀区温泉镇环山村

  • 入库时间 2023-06-19 09:49:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-01

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N15/02 专利申请号:2020112356296 申请公布日:20210205

    发明专利申请公布后的视为撤回

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