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一种通过干涉条纹中心区域数据确定成像系统参数的方法

摘要

本发明提供的是一种通过干涉条纹中心区域数据确定成像系统参数的方法。其过程包括:A1,对一定带宽的入射光进行空间调制偏振成像,得到包含偏振信息的干涉图像;A2,提取得到的干涉图的中心区域的干涉条纹数据;A3,对提取的干涉条纹进行变换得到偏振信息在频域中的分布情况;A4,通过结合偏振信息在频域中的分布情况可以更加精确的确定偏振成像系统的相关参数。本发明可用于偏振成像系统的相关参数的确定,可广泛用于偏振成像等领域。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-05-16

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01M11/02 专利申请号:2020111712128 申请公布日:20210205

    发明专利申请公布后的视为撤回

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