首页> 中国专利> 基于局部碰撞电离的负阻和非饱和磁阻效应共存的器件

基于局部碰撞电离的负阻和非饱和磁阻效应共存的器件

摘要

本发明公开了基于局部碰撞电离的负阻和非饱和磁阻效应共存的器件,属于半导体器件技术领域,包括半导体基体和两个金属电极;两个金属电极设置于半导体基体的同一表面且至少有一个金属电极位于半导体基体表面的边缘;向金属电极施加持续增大的电流,半导体基体内形成的局部非均匀电场的电场强度增强,局部碰撞电离的发生,产生等效的载流子注入效应,使器件形成负阻效应;器件置于磁场中,半导体基体内部载流子由于洛伦兹力作用发生非均匀性变化,呈现出非饱和磁阻效应,实现负阻效应和非饱和磁阻效应共存于器件。本发明结构简单、性能测量方法成熟,可应用于发展新型多功能器件,比如具有高磁敏特性的脉冲发生器、新型多功能磁存储器件。

著录项

  • 公开/公告号CN112331769A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN202011156234.7

  • 发明设计人 何雄;夏正才;

    申请日2020-10-26

  • 分类号H01L47/00(20060101);H01L43/08(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人李智

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2023-06-19 09:49:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-27

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号