公开/公告号CN112305650A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-02-02
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申请/专利权人 上海塞普机电工程技术有限公司;戴彤宇;
申请/专利号CN201910706375.2
发明设计人 戴彤宇;
申请日2019-08-01
分类号G02B5/18(20060101);G01N21/958(20060101);
代理机构
代理人
地址 200232 上海市徐汇区龙华西路585号华富大厦13B4室
入库时间 2023-06-19 09:44:49
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-11-01
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G02B 5/18 专利申请号:2019107063752 申请公布日:20210202
发明专利申请公布后的视为撤回
机译: 基于线光源和面阵相机的光面成像激光雷达及其检测方法
机译: 一种用于校准数字光学成像系统的方法,一种用于校正数字光学成像系统中的成像误差的方法以及数字光学基础系统
机译: 数字摄影设备,一种控制该方法的方法以及一种存储介质的程序以实施该方法,特别是用于通过在面重叠判断单元中通过识别面来重新识别面来判断隐藏面