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松散颗粒堆积物粒度尺寸的检测方法、系统及存储介质

摘要

本发明涉及一种松散颗粒堆积物粒度尺寸的检测方法、系统及存储介质,其包括:准备N个粒度不同的松散颗粒堆积物样品,组成一组颗粒堆积物样品集;将颗粒堆积物样品集中的样品依次放在LIBS系统的样品平台上,进行激光等离子体的发射谱线测量,获取各个样品对应的特征光谱图;从每个样品的特征光谱图中选取两条特征谱线,分别计算每个样品对应的这两条特征谱线积分面积的比值;将测量得到的比值作为表征松散颗粒堆积物中粒度尺寸的探针,采用这组样品集对应的每个样品的两条选定谱线的光谱强度比构建光谱数据与颗粒粒度的标定关系;获得待测松散颗粒堆积物的特征光谱数据;根据待测松散颗粒堆积物对应的特征发射光谱数据,利用光谱数据与颗粒粒度的标定关系,获得待测颗粒堆积物中的颗粒粒度。

著录项

  • 公开/公告号CN112255149A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院近代物理研究所;

    申请/专利号CN202011078064.5

  • 发明设计人 钱东斌;李亚举;李小龙;马新文;

    申请日2020-10-10

  • 分类号G01N15/02(20060101);G01N21/73(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人孙楠

  • 地址 730013 甘肃省兰州市城关区南昌路509号

  • 入库时间 2023-06-19 09:38:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-05

    授权

    发明专利权授予

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