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用于基于量化参数对残差块进行编码/解码的方法和装置

摘要

根据本发明的编码/解码装置根据比特流导出残差块的残差系数,计算残差块的量化参数,通过使用该量化参数对残差系数执行逆量化,以及对逆量化的残差系数执行逆转换,从而能够重建残差块的残差样本。

著录项

  • 公开/公告号CN112262575A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 光云大学校产学协力团;

    申请/专利号CN201980038894.4

  • 发明设计人 沈东圭;朴时奈;

    申请日2019-06-10

  • 分类号H04N19/124(20060101);H04N19/70(20060101);H04N19/117(20060101);H04N19/176(20060101);H04N19/119(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人杜诚;杨林森

  • 地址 韩国首尔

  • 入库时间 2023-06-19 09:36:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-07-25

    著录事项变更 IPC(主分类):H04N19/124 专利申请号:2019800388944 变更事项:申请人 变更前:韩华泰科株式会社 变更后:韩华视觉株式会社 变更事项:地址 变更前:韩国京畿道 变更后:韩国京畿道

    著录事项变更

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