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一种基于并行探测的光学图像层析显微镜及其成像方法

摘要

本发明涉及一种基于并行探测的光学图像层析显微镜及其成像方法,光学图像层析显微镜包括光源、光学分束器、成像臂、参考臂、探测端、干涉信号获取单元和相位调制单元;光源发出的光经过光学分束器分为第一光束和第二光束,第一光束依次经过成像臂聚焦到被测物品上,并形成第一反射光原路返回探测端,第二光束经过参考臂反射,然后经过光学分束器到达探测端,相位调制单元设置在所述第一光束或所述第二光束的光束线路中,第一反射光和第二光束在探测端中发生干涉,并照射在干涉信号获取单元上,干涉信号获取单元用于从干涉光的每个像素中探测调幅干涉信号。与现有技术相比,本发明可以大幅度的提高信噪比。

著录项

  • 公开/公告号CN112229319A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海师范大学;

    申请/专利号CN202011015203.X

  • 发明设计人 王笑梅;朱媛媛;

    申请日2020-09-24

  • 分类号G01B9/02(20060101);G02B21/00(20060101);

  • 代理机构31225 上海科盛知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵继明

  • 地址 200234 上海市徐汇区桂林路100号

  • 入库时间 2023-06-19 09:33:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-04-07

    授权

    发明专利权授予

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