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应用EMScan技术对高密度电子电路故障的检测方法

摘要

本发明提供一种应用EMScan技术对高密度电子电路故障的检测方法,用于非接触式快速检测电子电路的物理和电气缺陷。利用EMScan扫描仪对标准电路板和待测电路板频谱的扫描,将两者的频谱图和基本信息存入数据库;通过标准板和待测板频谱图作差,得频谱差图,设频率对比阈值,得异常频率点;依此异常频点完成上述两板云图扫描及云图对比,得云图差图;选择云图差图阈值得到阈值图像,确定问题区域元器件列表,以便进一步查对。本发明提高了高密度电子电路组装工艺的可控性,保证了其产品质量和可靠性,同时降低了检测工作量,提高了检测效率,缩短了电子装备生产周期。可用于电装行业的高密度电子电路组装过程中检测和其它的故障检测。

著录项

  • 公开/公告号CN102169156B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-02-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201110127449.0

  • 申请日2011-05-18

  • 分类号G01R31/02(20060101);G01N21/956(20060101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人程晓霞;王品华

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:13:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-02-27

    授权

    授权

  • 2011-10-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/02 申请日:20110518

    实质审查的生效

  • 2011-08-31

    公开

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