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一种用于二值化电容层析成像的闭环图像重建方法

摘要

本发明涉及一种用于二值化电容层析成像的闭环图像重建方法,可显著提高图像重建质量。主要包括以下步骤:首先,利用N电极电容层析成像传感器分别得到空场和待测场各N(N‑1)/2个独立测量值,并建立N×N的电容变化量矩阵;然后,将Calderon算法与平滑算法sigmoid函数作为被控对象,将两算法相结合反演出的相对介电常数分布带入正问题求解算法中获得新的电容变化量矩阵作为负反馈,利用模糊自适应PID控制器来修正电容变化量;最后,若反馈值矩阵与输入的测量值矩阵之间的误差小于允许误差,则结束迭代并输出重建结果,否则继续进行闭环迭代。该方法能有效减小图像伪影,提高图像分辨率,显著提高图像重建质量,在两相流检测领域具有重要的实用价值和很好的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN112147189A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN202010959247.1

  • 发明设计人 曹章;田雨;徐立军;胡蝶;高欣;

    申请日2020-09-11

  • 分类号G01N27/22(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2023-06-19 09:21:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-02-28

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N27/22 专利申请号:2020109592471 申请公布日:20201229

    发明专利申请公布后的驳回

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