斯托克斯偏振测量装置、测量方法及超表面阵列构建方法

摘要

本发明提供一种斯托克斯偏振测量装置，包括依次设置的超表面阵列、线性偏振片以及成像装置；其测量方法包括将偏振待测光波依次入射超表面阵列、线性偏振片，再由成像装置记录出射光波的空间光强分布，根据出射光波的空间光强分布，由最小二乘法计算偏振待测光波的斯托克斯矢量；超表面阵列构建方法中纳米砖结构单元的纳米砖转向角α由纳米砖中心点的位置坐标(r,θ)确定，其满足的函数关系为：α＝f(r,θ)，其中f(r,θ)满足本发明的测量装置及测量过程简单，无运动元件，无需分时重复测量，可实现全斯托克斯矢量的高精度测量。