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获取原子成像中的原子位置的方法与装置

摘要

本发明提供了一种透射电镜图像分析方法,包括:输入步骤,其接收材料的具有图像像素值的原始图像;亮原子位形粗提取步骤,其依据图像像素值,获得原始图像中的亮斑的轮廓数据;亮原子位形精细计算步骤,其依据轮廓数据提取原始图像中包含有亮斑的区域的像素值,拟合获得亮原子中心点精确位置;其他原子位形精细计算步骤,其依据多个相邻的亮原子的中心位置以及材料的晶格种类,获得其他原子的中心位置;以及输出步骤以输出原始图像中的原子排布信息。

著录项

  • 公开/公告号CN112116581A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院物理研究所;

    申请/专利号CN202011008851.2

  • 发明设计人 白雪冬;周鑫;陈潘;许智;廖磊;

    申请日2020-09-23

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/136(20170101);G06T7/70(20170101);

  • 代理机构11280 北京泛华伟业知识产权代理有限公司;

  • 代理人王勇;王博

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村南三街8号

  • 入库时间 2023-06-19 09:16:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-09-08

    授权

    发明专利权授予

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