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一种半导体晶片磨削力在线测量装置及控制力磨削方法

摘要

本发明属于硬脆的半导体晶体材料超精密加工领域,涉及一种半导体晶片磨削过程中磨削力在线测量装置及控制力磨削方法。本发明公开了一种半导体晶片磨削力在线测量装置,并作为磨削力自适应控制系统反馈元件。该磨削力测量装置采用压电式测量原理,包括传感器部分和数据处理单元。传感器部分用于在线测量径向力Fr、切向力Ft和轴向力Fz三个方向力,数据处理单元用于采集分析磨削力数据,并反馈控制砂轮进给速度和进给量,以期达到的目的。本发明具有如下优点:磨削力在线测量装置的结构简单,对原有设备改造小;磨削力在线测量环节少、响应速度快、精度高;可提高半导体晶片的磨削效率,降低损伤层厚度。

著录项

  • 公开/公告号CN102009387B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-01-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN201010553691.X

  • 发明设计人 康仁科;朱祥龙;金洙吉;郭东明;

    申请日2010-11-20

  • 分类号B24B49/16(20060101);

  • 代理机构21200 大连理工大学专利中心;

  • 代理人梅洪玉

  • 地址 116023 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:13:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-01-30

    授权

    授权

  • 2011-06-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):B24B 49/16 申请日:20101120

    实质审查的生效

  • 2011-04-13

    公开

    公开

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