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一种用于微波传感的散射矩阵参数检测系统

摘要

本发明涉及一种用于微波传感的散射矩阵参数检测系统,包括直流扫参模块(1),微波电路模块(2),处理显示模块(3),微波传感器模块(4),各个模块相互组合能够实现电压控制频率扫参,对比入射信号与反射信号或直通信号的值从而得到微波散射矩阵参数中反射系数和传输系数的变化趋势,反射系数和传输系数的变化趋势经过校准后能够得到实时检测的微波散射矩阵参数,本发明最终实现了将微波传感器反馈的散射矩阵参数曲线以及谐振点频率的值实时地显示在屏幕上的功能。本发明提供了一种能够在外部复杂环境下测试微波器件散射矩阵参数的系统,具体技术方式是通过单片机编程与射频电路模块搭配来实现微波传感器的散射矩阵参数测试。

著录项

  • 公开/公告号CN112097815A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202010847628.0

  • 申请日2020-08-21

  • 分类号G01D5/48(20060101);G01R19/10(20060101);G01R27/26(20060101);

  • 代理机构51101 成都科奥专利事务所(普通合伙);

  • 代理人余丽生

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 09:13:40

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