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阵列天线总辐射功率测量方法、装置以及计算机存储介质

摘要

本发明实施例提供一种阵列天线总辐射功率测量方法、装置以及计算机存储介质,通过将待测的阵列天线进行分区,使在阵列天线总辐射功率测量过程中,采样点的点数减少,在某些实施过程中可以大大地提升测试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN112083234A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中兴通讯股份有限公司;

    申请/专利号CN201910517592.7

  • 申请日2019-06-14

  • 分类号G01R29/10(20060101);

  • 代理机构44281 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人薛祥辉

  • 地址 518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦

  • 入库时间 2023-06-19 09:10:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/10 专利申请号:2019105175927 申请日:20190614

    实质审查的生效

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