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一种基于散射场信息的超声兰姆波层析成像方法

摘要

本发明提供一种基于散射场信息的超声兰姆波层析成像方法,涉及超声波无损检测领域,所述方法包括步骤1:获取待测试件缺陷的散射场数据;步骤2:基于散射场数据,利用缺陷重构算法重构待测试件缺陷的形状和大小。本发明利用超声兰姆波与待测试件缺陷相互作用产生散射场数据,基于散射场数据,使用衍射层析投影定理重构缺陷的形状和大小。

著录项

  • 公开/公告号CN112083073A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 戈昱科技(上海)有限公司;

    申请/专利号CN201910506674.1

  • 发明设计人 吕贵阳;

    申请日2019-06-12

  • 分类号G01N29/06(20060101);G01N29/44(20060101);

  • 代理机构31297 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人赵朋晓

  • 地址 200333 上海市普陀区真光路1219号3层196室

  • 入库时间 2023-06-19 09:10:33

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