一种HCI的存储性能优化方法、装置、设备及存储介质

摘要

本发明公开了一种HCI的存储性能优化方法，本申请中可以基于预设待测配置组合构建HCI，然后可以在HCI上针对预设测试用例进行数据处理，并在此过程中获取指定的存储性能指标并将其提示出来，工作人员根据提示出的存储性能指标的具体情况便可以对预设待测配置组合进行评估，有助于对比选择出对应有优秀存储性能的预设待测配置组合，其中，在进行数据处理前还可以对HCI进行数据读写流程的预热，有利于后续测试过程高效稳定地进行，且本申请应用于处理器，无需人工参与，执行速度较快，工作效率较高。本发明还公开了一种HCI的存储性能优化装置、设备及计算机可读存储介质，具有如上HCI的存储性能优化方法相同的有益效果。