法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-12-06
授权
发明专利权授予
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 用于分析光源的光谱的光谱的全范围校准装置以及在能够使用波长扫描滤光片的光谱仪上获得准确的波长信息和像素信息的校准设备中获取信息的方法
机译: 在非极性基片上制作轴外生长位点的方法及由此获得的基片