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基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法

摘要

本发明涉及基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法,所述装置包括待测信号输入端、本振脉冲光源,待测信号输入端、本振脉冲光源均连接到3×3光耦合器,3×3光耦合器的输出分为三路,其中第一路输出经光电探测器一、模数转换器一连接到数字信号处理单元,第二路输出经光电探测器二、模数转换器二连接到数字信号处理单元,第三路输出经光电探测器三、模数转换器三连接到数字信号处理单元。本申请的基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法,具有高灵敏度、高保真度、高分辨率;简化了线性光采样的光学前端,降低了硬件开销;光电探测器不平衡度易补偿,简单可靠;可测量任意强度调制光信号,对本振脉冲光源的要求低。

著录项

  • 公开/公告号CN111917485A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉普赛斯电子技术有限公司;

    申请/专利号CN202010795364.9

  • 发明设计人 付松年;何欢;黄秋元;马超;

    申请日2020-08-10

  • 分类号H04B10/54(20130101);H04B10/524(20130101);

  • 代理机构42252 湖北天领艾匹律师事务所;

  • 代理人杨建军

  • 地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道308号光谷动力节能环保科技企业孵化器(加速器)一期9栋4层车间1号

  • 入库时间 2023-06-19 08:52:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-28

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H04B10/54 专利申请号:2020107953649 申请公布日:20201110

    发明专利申请公布后的驳回

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