首页> 中国专利> 分析含半导体微波电路电热特性的高效时域方法

分析含半导体微波电路电热特性的高效时域方法

摘要

本发明公开了一种分析含半导体微波电路电热特性的高效时域方法。该方法首先利用共形时域有限差分法求解线性电磁场结构,通过计算线性场‑路耦合矩阵方程,在电磁场结构中的场‑路连接位置处加载边界条件,通过计算线性场‑路耦合矩阵方程,提取线性的电磁结构的时域冲击响应信号;将提取的时域冲击响应信号与非线性半导体器件耦合计算得到该非线性场‑路耦合系统端口位置处的时域信息;接下来通过时域谱元法对基于物理模型的半导体微波电路进行电热耦合效应分析,将漂移扩散方程组和热传导方程进行耦合求解。使用本发明的方法能够处理更为复杂的微波电路,提高了非线性微波电路的计算效率。

著录项

  • 公开/公告号CN111859838A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京理工大学;

    申请/专利号CN201910256812.5

  • 申请日2019-04-01

  • 分类号G06F30/367(20200101);G06F30/398(20200101);

  • 代理机构32203 南京理工大学专利中心;

  • 代理人王玮

  • 地址 210094 江苏省南京市孝陵卫200号

  • 入库时间 2023-06-19 08:42:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-08-16

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号